硬盤壞道原因及如何避免產(chǎn)生壞道

硬盤壞道分為邏輯壞道和物理壞道。硬盤的邏輯壞道產(chǎn)生的原因通常是由于軟件的使用或操作不當，如經(jīng)常不正常關(guān)機（當然頻繁的不正常關(guān)機可能也會引致物理壞道）所造成的。硬盤的邏輯壞道屬于軟壞道，并不是真正的物理損壞，但若不及時修復(fù)則會導(dǎo)致壞道區(qū)域增多，從而造成更多數(shù)據(jù)丟失或程序出錯。

物理壞道產(chǎn)生的原因有以下幾種：

（ 1）硬盤在高速運轉(zhuǎn)時受到振動而產(chǎn)生；

（2）硬盤的供電不穩(wěn)定，電壓偏高或偏低；

（3）硬盤關(guān)機后盤片還沒有停止運轉(zhuǎn)且回到起始區(qū)就立即加電開機，從而造成壞道；

（4）超頻或長時間高溫運轉(zhuǎn)；

（ 5）環(huán)境惡劣，造成灰塵從呼吸孔進入硬盤從而造成硬盤有壞道。

從上面幾點看出，防止硬盤壞道要正確操作電腦，不要頻繁開關(guān)機，還有就是給電腦一個好的工作環(huán)境，好使用名牌大廠的電源，這樣就能**硬盤有較長的使用壽命，從而避免壞道的產(chǎn)生。