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軟件測(cè)試面試需要準(zhǔn)備什么?

2021-10-10

軟件測(cè)試面試需要準(zhǔn)備什么?

1、什么是數(shù)據(jù)庫(kù)?

答:數(shù)據(jù)庫(kù)是按照某種數(shù)據(jù)模型組織起來(lái)的并存放二級(jí)存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)集合。

2、什么是關(guān)系型數(shù)據(jù)庫(kù)?

答:關(guān)系型數(shù)據(jù)庫(kù)是建立在關(guān)系數(shù)據(jù)庫(kù)模型基礎(chǔ)上的數(shù)據(jù)庫(kù),借助集合代數(shù)等概念和方法處理數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)。目前主流的關(guān)系數(shù)據(jù)庫(kù)有:oracle、SQL、DB2、sqlserver、access、sybase等。

3、主鍵、外鍵的作用,索引的優(yōu)點(diǎn)與不足?

答:主鍵:是表中的唯 一標(biāo)示鍵。作用:**實(shí)體的完整性;加快數(shù)據(jù)庫(kù)的操作速度;增加新的表記錄時(shí),數(shù)據(jù)庫(kù)會(huì)自動(dòng)檢索新記錄的主鍵值,不允許該值與其他表中記錄的主鍵重復(fù);數(shù)據(jù)庫(kù)會(huì)按主鍵值的順序顯示記錄,如果沒(méi)有設(shè)定主鍵,則按輸入的順序顯示記錄。

外鍵:是主鍵的從屬,表示了兩個(gè)表之間的聯(lián)系。作用:使用外鍵可以避免冗余。

索引的優(yōu)點(diǎn):

1)通過(guò)創(chuàng)建唯 一性的索引,可以**表中數(shù)據(jù)的唯 一性;

2)加速數(shù)據(jù)的檢索速度;

3)加快表與表之間的連接;

4)在使用分組與排序數(shù)據(jù)檢索時(shí),可以顯著檢索分組與排序的時(shí)間;

5)在查詢的過(guò)程中使用優(yōu)化隱藏器,提供系統(tǒng)性能。

缺點(diǎn):

1)創(chuàng)建索引需要時(shí)間,且隨著數(shù)據(jù)量的增加而增加;

2)索引需要占用物理空間;

3)當(dāng)對(duì)表中數(shù)據(jù)進(jìn)行修改時(shí),索引也要?jiǎng)討B(tài)維護(hù),降低了數(shù)據(jù)的維護(hù)速度。

4、測(cè)試類型有哪些?

答:黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、功能測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、負(fù)載測(cè)試、性能測(cè)試、兼容測(cè)試、可用性測(cè)試、安裝|卸載測(cè)試、恢復(fù)測(cè)試、安全測(cè)試、比較測(cè)試、Alpha測(cè)試、Beta測(cè)試、端到端測(cè)試、健全測(cè)試、衰竭測(cè)試、接受測(cè)試、累積綜合測(cè)試

計(jì)算機(jī)程序員

5、黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試的定義與區(qū)別?測(cè)試分哪幾個(gè)階段?這幾個(gè)階段之間的區(qū)別和聯(lián)系?

答:黑盒測(cè)試:不關(guān)心軟件內(nèi)部結(jié)構(gòu),只關(guān)心輸入輸出,主要測(cè)試依據(jù)是需求文檔;

白盒測(cè)試:關(guān)注軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和程序的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn),主要測(cè)試依據(jù)是設(shè)計(jì)文檔;

區(qū)別:

白盒測(cè)試只考慮測(cè)試軟件產(chǎn)品,他不**完整的需求規(guī)格是否被滿足;

黑盒測(cè)試只考慮測(cè)試需求規(guī)格,它不**實(shí)現(xiàn)的所有部分是否被測(cè)試到;

黑盒測(cè)試會(huì)發(fā)現(xiàn)遺漏的缺陷,指出規(guī)格的哪些部分沒(méi)有被完成;

白盒測(cè)試會(huì)發(fā)現(xiàn)代理方面缺陷,指出哪些實(shí)現(xiàn)部分是錯(cuò)誤的。

測(cè)試分:?jiǎn)卧獪y(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試。

單元測(cè)試:一般由開(kāi)發(fā)小組采用白盒方式來(lái)測(cè)試,主要測(cè)試單元是否符合詳細(xì)設(shè)計(jì)規(guī)格說(shuō)明書的要求。

集成測(cè)試:界于單元測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試之間,起到“橋梁作用”,一般由測(cè)試小組或開(kāi)發(fā)小組采用白盒+黑盒的方式來(lái)測(cè)試,主要測(cè)試模塊接口及集成后的整體功能,驗(yàn)證與概要設(shè)計(jì)規(guī)格說(shuō)明書的符合度。

系統(tǒng)測(cè)試:一般由獨(dú)立測(cè)試小組采用黑盒方式來(lái)測(cè)試,主要測(cè)試系統(tǒng)是否符合需求規(guī)格說(shuō)明書的要求。

驗(yàn)收測(cè)試:與系統(tǒng)測(cè)試非常相似,主要區(qū)別是測(cè)試人員不同,驗(yàn)收測(cè)試由用戶代表或最終用戶執(zhí)行。

6、測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法有哪些?

黑盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法有:等價(jià)類劃分、邊界值劃分、因果圖分析和錯(cuò)誤猜測(cè);

白盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法有:語(yǔ)句覆蓋、判定覆蓋、條件覆蓋、判定/條件覆蓋、多重條件覆蓋

7、測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法有哪些?

黑盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法有:等價(jià)類劃分、邊界值劃分、因果圖分析和錯(cuò)誤猜測(cè);

白盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法有:語(yǔ)句覆蓋、判定覆蓋、條件覆蓋、判定/條件覆蓋、多重條件覆蓋。

8、性能測(cè)試的流程?

測(cè)試需求分析;測(cè)試計(jì)劃制定與評(píng)審;測(cè)試用例設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā);測(cè)試執(zhí)行與監(jiān)控;分析測(cè)試結(jié)果;編寫性能測(cè)試報(bào)告;測(cè)試經(jīng)驗(yàn)總結(jié)

軟件測(cè)試

9、a測(cè)試,B測(cè)試定義?

a測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)公司組織內(nèi)部人員,模擬各類用戶,對(duì)即將上市的軟件產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,試圖發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤并修復(fù)的過(guò)程。

β測(cè)試是由軟件的多個(gè)用戶在實(shí)際使用環(huán)境中進(jìn)行的測(cè)試,這些用戶返回有關(guān)錯(cuò)誤信息給開(kāi)發(fā)者。

10、測(cè)試用例要素?

用例編號(hào)、測(cè)試名稱、重要級(jí)別、前置條件、測(cè)試輸入、操作步驟、預(yù)期結(jié)果

11、壓力測(cè)試與負(fù)載測(cè)試?

負(fù)載測(cè)試:通常運(yùn)行時(shí)間比較短,在系統(tǒng)上逐漸加壓,直到性能指標(biāo)達(dá)到飽和狀態(tài)(比如相應(yīng)時(shí)間超出預(yù)期要求、系統(tǒng)資源占用率居高不下等),從而驗(yàn)證系統(tǒng)預(yù)期的性能目標(biāo)、相應(yīng)時(shí)間等。

壓力測(cè)試:長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行,逐漸增加超負(fù)荷(并發(fā)、循環(huán)、多用戶等),直到系統(tǒng)產(chǎn)生異常以及對(duì)異常的處理能力,從而驗(yàn)證系統(tǒng)可靠性、找到系統(tǒng)的瓶頸。 **微軟壓力測(cè)試的經(jīng)驗(yàn)值為72小時(shí)。**

12、什么是回歸測(cè)試?

回歸測(cè)試:缺陷修正后,執(zhí)行符合一定條件的測(cè)試用例來(lái)確保缺陷的修正沒(méi)有在軟件中引入新的缺陷,這些缺陷可能存在于被測(cè)試的軟件模塊中,也可能在與之相關(guān)或不相關(guān)的其他軟件模塊中。當(dāng)軟件發(fā)生變更或者使用軟件的環(huán)境發(fā)生變化時(shí),需要進(jìn)行回歸測(cè)試

13、簡(jiǎn)述bug的生命周期?

1, 有效地記錄BUG

2, 使用BUG模板

3, 評(píng)價(jià)BUG優(yōu)先級(jí)和嚴(yán)重性

4, BUG的生命

5, 維護(hù)BUG數(shù)據(jù)庫(kù)

14、缺陷記錄應(yīng)包含的內(nèi)容?

缺陷標(biāo)識(shí)、缺陷類型、缺陷嚴(yán)重程度、缺陷產(chǎn)生可能性、缺陷優(yōu)先級(jí)、缺陷狀態(tài)、缺陷起源、缺陷來(lái)源、缺陷原因。

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